基于FPGA的SIFT特征点检测
肖晗; 原魁; 何文浩; 柴晓杰
2012-04
发表期刊高技术通讯
卷号22期号:4页码:429-435
其他摘要为了在FPGA中用硬件电路实现SIFT特征点的实时检测,对原算法进行了改进,提出了一种基于面密度插值法和双重极值点约束的新方法。该方法显著提升了SIFT特征点的尺度不变性,同时有利于提高定点数的计算精度。在此基础上,设计了一种高效率的硬件计算方案,将所有的计算步骤都实现在了流水线结构中,并在FPGA上完成了开发工作。与现有研究成果相比,本文的方案非常节约硬件资源,大大降低了硬件成本,同时又大幅度提高了计算精度。系统能够在采集图像的同时完成特征点的检测。对于360×288大小的图像,其理论最高处理能力为303/秒;受到摄像头的图像采集速度限制,目前的实际处理速度是25/秒。
关键词Sift Fpga 特征点检测 机器视觉 硬件计算
收录类别EI
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/10347
专题智能制造技术与系统研究中心_智能机器人
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
肖晗,原魁,何文浩,等. 基于FPGA的SIFT特征点检测[J]. 高技术通讯,2012,22(4):429-435.
APA 肖晗,原魁,何文浩,&柴晓杰.(2012).基于FPGA的SIFT特征点检测.高技术通讯,22(4),429-435.
MLA 肖晗,et al."基于FPGA的SIFT特征点检测".高技术通讯 22.4(2012):429-435.
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