CASIA OpenIR  > 智能感知与计算研究中心
Multi-class blind steganalysis based on image run-length analysis
Dong, Jing; Wang, Wei; Tan, Tieniu
2009
会议名称International Workshop on Digital Watermarking
会议录名称Digital Watermarking
会议日期August 24-26, 2009
会议地点Guildford, UK
摘要In this paper, we investigate our previously developed run-length based features for multi-class blind image steganalysis. We construct a Support Vector Machine classifier for multi-class recognition for both spatial and frequency domain based steganographic algorithms. We also study hierarchical and non-hierarchical multi-class schemes and compare their performance for steganalysis. Experimental results demonstrate that our approach is able to classify different stego images according to their embedding techniques based on appropriate supervised learning. It is also shown that the hierarchical scheme performs better in our experiments.
关键词Steganalysis Multi-classes
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/12320
专题智能感知与计算研究中心
09年以前成果
通讯作者Dong, Jing
推荐引用方式
GB/T 7714
Dong, Jing,Wang, Wei,Tan, Tieniu. Multi-class blind steganalysis based on image run-length analysis[C],2009.
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