Special issue "Advances in graph-based pattern recognition"
Liu, Cheng-Lin1; Luo, Bin2; Kropatsch, Walter3
2017-02-01
发表期刊PATTERN RECOGNITION LETTERS
卷号87页码:1-3
文章类型Editorial Material
WOS标题词Science & Technology ; Technology
DOI10.1016/j.patrec.2016.10.008
收录类别SCI
语种英语
WOS研究方向Computer Science
WOS类目Computer Science, Artificial Intelligence
WOS记录号WOS:000395616700001
引用统计
被引频次:1[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/14426
专题模式识别国家重点实验室_模式分析与学习
作者单位1.Chinese Acad Sci, Inst Automat, Beijing, Peoples R China
2.Anhui Univ, Hefei, Peoples R China
3.Vienna Univ Technol, Vienna, Austria
推荐引用方式
GB/T 7714
Liu, Cheng-Lin,Luo, Bin,Kropatsch, Walter. Special issue "Advances in graph-based pattern recognition"[J]. PATTERN RECOGNITION LETTERS,2017,87:1-3.
APA Liu, Cheng-Lin,Luo, Bin,&Kropatsch, Walter.(2017).Special issue "Advances in graph-based pattern recognition".PATTERN RECOGNITION LETTERS,87,1-3.
MLA Liu, Cheng-Lin,et al."Special issue "Advances in graph-based pattern recognition"".PATTERN RECOGNITION LETTERS 87(2017):1-3.
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