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A Novel Method to Evaluate the RFID System Reliability
Xie JW(谢家文); Wang ML(王敏丽); Tan J(谭杰); Xie JW(谢家文)
2017-02
会议名称13th Global Congress on Manufacturing and Management, GCMM 2016
卷号174
页码465–469
会议日期2016.11.28-2016.11.30
会议地点郑州
所属项目编号2014BAF07B04
摘要The RFID system application environment may be different,this have huge influence to the RFID system reliability.This paper presents a data-driven model to evaluate the reliability of RFID systems by analyzing the factors that affect RFID system raliability. We construct free-space and semi-closed metal environment two scenarios by using the proposed model to determine the reliable reference parameter range in these scenarios. The experimental results show that the proposed model can evaluate the reliability of RFID system easily and quickly in different application scenarios.
关键词Rfid System Data-driver Least Squares Reliability
DOI10.1016/j.proeng.2017.01.167
收录类别EI
语种英语
引用统计
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/14498
专题综合信息系统研究中心
通讯作者Xie JW(谢家文)
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Xie JW,Wang ML,Tan J,et al. A Novel Method to Evaluate the RFID System Reliability[C],2017:465–469.
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