CASIA OpenIR  > 09年以前成果
THE RELIABILITY MODEL ON A 2-STAGE CIMS PRODUCTION LINE
MIN, T
1993-07-01
发表期刊MICROELECTRONICS AND RELIABILITY
卷号33期号:9页码:1275-1280
文章类型Article
摘要This paper presents the reliability model on two stage CIMS production line, analyzes two numerical examples.
WOS标题词Science & Technology ; Technology ; Physical Sciences
收录类别SCI
语种英语
WOS研究方向Engineering ; Science & Technology - Other Topics ; Physics
WOS类目Engineering, Electrical & Electronic ; Nanoscience & Nanotechnology ; Physics, Applied
WOS记录号WOS:A1993LK29200011
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文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/21875
专题09年以前成果
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GB/T 7714
MIN, T. THE RELIABILITY MODEL ON A 2-STAGE CIMS PRODUCTION LINE[J]. MICROELECTRONICS AND RELIABILITY,1993,33(9):1275-1280.
APA MIN, T.(1993).THE RELIABILITY MODEL ON A 2-STAGE CIMS PRODUCTION LINE.MICROELECTRONICS AND RELIABILITY,33(9),1275-1280.
MLA MIN, T."THE RELIABILITY MODEL ON A 2-STAGE CIMS PRODUCTION LINE".MICROELECTRONICS AND RELIABILITY 33.9(1993):1275-1280.
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