CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配方法
田捷; 张阳阳; 杨鑫
2008-03-20
公开日期2009-09-23
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明公开了一种基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配方法,该方法包括:A.粗略计算指纹方向场,并修正破碎区域中的方向值,依照修正后的方向场进行指纹增强;B.采用由粗到细的方法估算模板指纹和输入指纹之间的尺寸缩放值;C.采用基于细节点聚类的配准方法决定配准参数的候选值,并建立输入指纹和模板指纹间细节点序列间的对应关系;D.基于所有对应的细节点对计算归一化的相似度分数,实现基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配。利用本发明,能够有效、鲁棒地处理多种采集仪间指纹的交叉匹配,提高匹配方法的互用性,实现了多采集仪间指纹的鲁棒匹配,并可应用于多个采集仪并存的系统,在指纹识别领域具有重要的应用价值。
授权日期2012-05-23
专利号CN200810102316.6
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8320
专题中国科学院分子影像重点实验室
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
田捷,张阳阳,杨鑫. 基于尺寸缩放估算的多采集仪间指纹交叉匹配方法. CN200810102316.6[P]. 2008-03-20.
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