CASIA OpenIR  > 综合信息系统研究中心
一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法
刘禹; 关强; 赵健; 曾隽芳
2008-12-10
Date Available2010-06-23
CountryCN
Subtype发明
Abstract本发明为一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法,包括待测标签支架、收发及参考天线支架、收发及参考天线置于标准测试环境内;环形器、频谱分析仪、RFID信号发生器、功率计置于标准测试环境外;方法是将RFID标签芯片和天线看作整体,用电磁波在自由空间的传播公式,通过参考和收发天线测量RFID标签系统的输入和输出电平,推算能够激活RFID标签工作的最小电平,再对RFID标签的理论读取距离评估。通过对决定RFID标签性能的重要指标之一的RFID标签功耗进行科学、可重复、可比较的非接触测量,解决现有技术指标不明确、测试结果误差大的问题,为使用者根据不同应用需求选择RFID标签产品提供辅助决策依据。
Patent NumberCN200810239330.0
Status授权
Document Type专利
Identifierhttp://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8378
Collection综合信息系统研究中心
Affiliation中国科学院自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
刘禹,关强,赵健,等. 一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法. CN200810239330.0[P]. 2008-12-10.
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