CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
一种形变指纹识别方法及系统
杨鑫; 曹凯; 田捷
2009-09-25
公开日期2010-06-23
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明提出了一种形变指纹识别方法和系统,利用图像采集单元、图像预处理单元、特征提取单元、模板存储单元、特征匹配单元,采用细节点、所有脊线上的采样点以及采样点的凸包作为特征来表示指纹;由细节点周围采样点的方向信息来衡量细节点间相似度,选取相似度最大的一些细节点对作为参考点指纹细节点对估计两指纹间的平移和旋转参数并寻找初步的指纹细节点对应关系;根据初步的指纹细节点对应关系用正则化的方法估计二次模型参数,并用二次模型对输入指纹特征做变换;在变换后的两个指纹特征中,重新寻找指纹细节点对应关系并给出匹配分数。
授权日期2012-02-08
专利号CN200910093175.0
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8393
专题中国科学院分子影像重点实验室
作者单位中国科学院自动化研究所
第一作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨鑫,曹凯,田捷. 一种形变指纹识别方法及系统. CN200910093175.0[P]. 2009-09-25.
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