CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
一种融入全局信息的指纹细节点匹配方法及系统
杨鑫; 田捷; 曹凯; 臧亚丽
2009-11-25
Date Available2010-07-14
CountryCN
Subtype发明
Abstract本发明提出一种融入全局信息的指纹细节点匹配方法和系统。本系统利用图像采集单元、图像预处理单元、特征提取单元、模板存储单元和特征匹配单元来实现整个匹配过程。在特征提取单元提出了包含全局信息的特征——细节点旋向性,并将细节点旋向性和细节点信息、以及细节点局部方向描述作为特征来表示指纹;由细节点旋向性和细节点局部方向描述来衡量细节点之间的相似度;选取相似度最大的几对细节点作为初始点对;以每一组初始点对为参照,对指纹特征进行配准并得到相应的匹配分数;选择各匹配分数中最大的匹配分数作为最终的匹配分数。根据最终匹配分数的大小判断输入指纹特征与模板指纹特征是否来源于同一个手指,从而完成指纹的细节点匹配。
Copyright Date2012-05-30
Patent NumberCN200910241531.9
Status授权
Document Type专利
Identifierhttp://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8419
Collection中国科学院分子影像重点实验室
Affiliation中国科学院自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
杨鑫,田捷,曹凯,等. 一种融入全局信息的指纹细节点匹配方法及系统. CN200910241531.9[P]. 2009-11-25.
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