CASIA OpenIR  > 综合信息系统研究中心
一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法
关强; 刘禹
2010-05-28
Date Available2010-09-15
CountryCN
Subtype发明
Abstract本发明公开了一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法,由测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底介质材料、基底板支架,以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块组成,在输入能量相同的情况下,通过测量待测标签与不同基底介质材料间距若干确定距离时标签反向散射信号的变化来评价该测试标签对于不同基底材料和不同间距下的工作状态。利用该测试系统与方法,可以指导使用者在RFID部署前即根据应用环境中介质材料的特点选择更加友好和能量转换效率更高的RFID标签,进而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
Patent NumberCN201010185459.5
Status授权
Document Type专利
Identifierhttp://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8443
Collection综合信息系统研究中心
Affiliation中国科学院自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
关强,刘禹. 一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法. CN201010185459.5[P]. 2010-05-28.
Files in This Item:
There are no files associated with this item.
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[关强]'s Articles
[刘禹]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[关强]'s Articles
[刘禹]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[关强]'s Articles
[刘禹]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.