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一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法
关强; 刘禹
2010-05-28
公开日期2010-09-15
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明公开了一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法,由测试控制器、频谱分析仪、矢量信号发生器、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底介质材料、基底板支架,以及用来确定待测标签与基底介质材料之间间距的聚苯乙烯块组成,在输入能量相同的情况下,通过测量待测标签与不同基底介质材料间距若干确定距离时标签反向散射信号的变化来评价该测试标签对于不同基底材料和不同间距下的工作状态。利用该测试系统与方法,可以指导使用者在RFID部署前即根据应用环境中介质材料的特点选择更加友好和能量转换效率更高的RFID标签,进而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
专利号CN201010185459.5
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8443
专题综合信息系统研究中心
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
关强,刘禹. 一种RFID标签介质影响的基准测试系统及方法. CN201010185459.5[P]. 2010-05-28.
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