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电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法
谭杰; 朱智源; 赵红胜; 柳振
2010-09-19
公开日期2011-02-23
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明为电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法。系统由标准测试环境、信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台、驱动电机、驱动电机控制器、控制计算机、信号源、频谱分析仪组成,其方法是通过分析高速运动状态下的待测电子标签产品在不同测试频带内的响应特性,得到运动状态待测电子标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过转盘切线方向瞬时速度来模拟直线方向速度实现待测电子标签的高速运动,模拟读写器读待测电子标签信号实现对运动状态标签频率响应性能基准测试,可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
专利号CN201010287637.5
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8493
专题综合信息系统研究中心
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
谭杰,朱智源,赵红胜,等. 电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法. CN201010287637.5[P]. 2010-09-19.
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