CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备
田捷; 韩冬; 杨鑫; 秦承虎; 吴萍
2010-11-30
公开日期2011-04-27
授权国家CN
专利类型发明
摘要一种激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法,包括步骤:利用有限元理论首先将扩散方程表示为线性化方程;建立未知的荧光光源分布与边界测量数据之间的线性关系;计算余量相关度向量得到最相关元素集合;将最相关元素集合与当前支撑集合并,生成新的支撑集;利用支撑集将离散后的成像空间分为允许区域和禁止区域,建立表面荧光数据与允许区域的线性关系;将最终得到的解向量中的负元素替换为0。本发明基于扩散近似模型,充分地考虑了生物组织的非匀质特性。在光源重建过程中,基于L1范数的稀疏性约束,并将TFI问题看作是压缩感知问题,利用基于支撑集的重建方法进行光源定位,有效地避免了重建结果的过平滑现象,提高了TFI成像的精度。
授权日期2013-03-06
专利号CN201010573795.7
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8502
专题中国科学院分子影像重点实验室
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
田捷,韩冬,杨鑫,等. 激发荧光断层成像的快速稀疏重建方法和设备. CN201010573795.7[P]. 2010-11-30.
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