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电子标签性能测试方法
赵红胜; 谭杰; 朱智源
2011-10-24
公开日期2012-02-22
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明公开了一种电子标签性能测试方法。该方法包括:利用圆周运动模拟直线运动测试电子标签性能;结合速度修正因子,分析直线运动时多普勒频移对标签性能的影响。本发明电子标签性能测试方法能够在受限的地域进行高速直线运动状态下的标签性能测试,保证测试过程的安全性;同时采用速度修正因子,比较Doppler频移的理论值和实际测试结果,从而实现通过测试低速圆周运动状态下读写器对标签的识读率来模拟直线高速运动状态下Doppler效应对标签识读率性能的影响。
专利号CN201110325457.6
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8580
专题综合信息系统研究中心
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
赵红胜,谭杰,朱智源. 电子标签性能测试方法. CN201110325457.6[P]. 2011-10-24.
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