CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
自适应的荧光断层成像重建方法
杨鑫; 田捷; 薛贞文; 李勇保
2012-11-22
公开日期2013-02-27
授权国家CN
专利类型发明
摘要一种自适应的荧光断层成像重建方法,利用有限元方法将扩散方程转化为线性方程;建立未知的荧光光源分布与表面荧光测量值之间的线性关系;计算当前正则化参数,并将残差相关系数中绝对值最大的元素选入支撑集合I;将更新后的支撑集合I中当前所有元素在矩阵A中对应的列取出,组成一个矩阵,获得下一步的搜索方向;计算下一步的步长并更新支撑集合;根据求解的搜索方向及步长迭代获取下一步结果,并更新正则化参数;判断是否达到停止条件,若达到,则重建过程结束,否则转到步骤S4。本发明不用提前预测正则化参数,而是在重建过程中自适应地决定正则化参数。本发明通过自适应的正则化参数选取策略提高了重建的鲁棒性,大大提升了重建效率。
授权日期2015-03-25
专利号CN201210478434.3
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8741
专题中国科学院分子影像重点实验室
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨鑫,田捷,薛贞文,等. 自适应的荧光断层成像重建方法. CN201210478434.3[P]. 2012-11-22.
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CN201210478434-自适应的荧(2464KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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