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当前检索式 ((ALL：surface defect detection))
限定条件 ((收录类别：SCI) AND (出处：IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT) AND (发表日期：2021) AND (语种：英语))
共13条，第1-13条
徐德 3 陶显 2 侯伟 2
孙佳 1 沈飞 1 王鹏 1
黎万义 1 张大朋 1 张正涛 1
何泳澔 1 黄一锟 1 马文治 1
吕承侃 1