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当前检索式 ((ALL：surface defect detection))
限定条件 ((出处：IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT) AND (语种：英语) AND (资助机构：National Key Research and Development Program of China) AND (作者：173211-001985))
共7条，第1-7条
张正涛 2 徐德 1 苏虎 1
宫新一 1 张家斌 1 王姝媛 1
吕承侃 1