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采用低维阵列探测的契伦科夫荧光断层成像系统与方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201110209916.4, 申请日期: 2011-07-26, 公开日期: 2012-02-01
Inventors:  田捷;  秦承虎;  钟江宏;  杨鑫
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