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深孔类零部件内部缺陷的视觉检测方法研究 学位论文
工学博士, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院大学,中国科学院自动化研究所, 2019
Authors:  宫新一
Adobe PDF(77289Kb)  |  Favorite  |  View/Download:37/0  |  Submit date:2019/06/21
深孔零件  缺陷检测  视觉检测  深度卷积神经网络  目标检测  轮廓提取  形态分析  
基于热红外视觉的自动铺丝缺陷原位在线检测方法研究 学位论文
, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院自动化研究所, 2019
Authors:  陈梦娟
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碳纤维复合材料,自动铺丝机,热红外视觉, 原位在线,缺陷检测  
Intelligent Inspection System Based on Infrared Vision for Automated Fiber Placement 会议论文
, 中国长春, 2018.08.25
Authors:  Chen MJ(陈梦娟);  Wu BL(吴保林)
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精密零件视觉外观检测方法研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2018
Authors:  孙佳
Adobe PDF(4689Kb)  |  Favorite  |  View/Download:141/7  |  Submit date:2018/05/31
摄像机标定  表面瑕疵检测  自动检测系统  卷积神经网络  零件测量  
A New Calibration Method of Line Scan Camera for High-Precision Two-Dimensional Measurement 会议论文
, German, 2018.08.20-24
Authors:  Zhang ZT(张正涛)
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A Robust Detection Method of Control Points for Calibration and Measurement With Defocused Images 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2017, 卷号: 66, 期号: 10, 页码: 2725-2735
Authors:  Ding, Wendong;  Liu, Xilong;  Xu, De;  Zhang, Dapeng;  Zhang, Zhengtao
View  |  Adobe PDF(2118Kb)  |  Favorite  |  View/Download:146/36  |  Submit date:2018/01/04
Camera Calibration  Control Point Detection  Defocused Image  Point Spread Function  Vision Measurement  
基于显微视觉的手机白玻表面缺陷检测方法研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2017
Authors:  袁伦喜
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缺陷分割  缺陷分类  视觉显著性  视觉测量  手机白玻  
The Development and Prospect of Surface Defect Detection Based on Vision Measurement Method 会议论文
, 中国桂林, 2016.05.12-2016.05.15
Authors:  Yuan LX(袁伦喜);  Zhang ZT(张正涛);  Tao X(陶显)
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Defect Detect  Vision Measurement  
基于显微视觉的表面瑕疵检测与振动测量研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2016
Authors:  陶显
Adobe PDF(10296Kb)  |  Favorite  |  View/Download:115/5  |  Submit date:2016/06/20
大口径光学元件  表面瑕疵检测  振动测量  显微视觉  
A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
Authors:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
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Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning