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Path Delay Test generation Toward Activation of worst Case Coupling Effects 期刊论文
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982
作者:  minjin, zhang;  Huawei, Li;  Xiaowei,Li
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Crosstalk-induced Delay  Delay Testing  Path Delay Fault  Signal Integrity  Test Generation  Timing Analysis  
Static timing analysis and its application in IC design 期刊论文
Chinese Journal of Electron Devices, 2006, 卷号: 29(4), 期号: 2006年04期, 页码: pp 1329-1333 (EI)
作者:  Zhang, Fu-Bin;  Ho, Ching-Yen;  Peng, Si-Long,
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Static Timing Analysis / sensitize Path / false Path / d-algorithm