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基于深度学习的表面缺陷检测方法综述 期刊论文
自动化学报, 2021, 卷号: 47, 期号: 5, 页码: 1017-1034
作者:  陶显;  侯伟;  徐德
Adobe PDF(9009Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：275/51  |  提交时间：2021/06/21
深度学习  表面缺陷检测  机器视觉  卷积神经网络  
A Self-Supervised CNN for Particle Inspection on Optical Element 期刊论文
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-12
作者:  Hou W(侯伟);  Tao X(陶显);  Xu D(徐德)
Adobe PDF(2721Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：233/56  |  提交时间：2021/06/21
Inspection  Feature reuse  optical element  particle inspection  self-supervised learning  transfer learning  
A Calibration and 3-D Measurement Method for an Active Vision System With Symmetric Yawing Cameras 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Xu, De;  Zhang, Di;  Liu, Xilong;  Ma, Liping
Adobe PDF(2707Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：258/52  |  提交时间：2021/11/03
3-D measurement  active vision  calibration  stereo vision  symmetric yawing system  
Industrial Weak Scratches Inspection Based on Multifeature Fusion Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 14
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Dapeng;  Hou, Wei;  Ma, Wenzhi;  Xu, De
Adobe PDF(11203Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：323/46  |  提交时间：2021/03/08
Deep learning  defect detection  machine vision  multiple feature fusion  weak scratch inspection  
Combining Prior Knowledge With CNN for Weak Scratch Inspection of Optical Components 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 11
作者:  Hou, Wei;  Tao, Xian;  Xu, De
Adobe PDF(6798Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：349/127  |  提交时间：2021/03/08
Convolutional neural network (CNN)  direction-sensitive convolution (DSC)  local maximum index (LMI)  optical component  weak scratch inspection  
A Novel Pixel-Wise Defect Inspection Method Based on Stable Background Reconstruction 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 页码: 13
作者:  Lv, Chengkan;  Shen, Fei;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  He, Yonghao
Adobe PDF(4910Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：242/58  |  提交时间：2021/11/03
Anomaly detection  autoencoder  background reconstruction  defect inspection  
Automated Pose Measurement Method Based on Multivision and Sensor Collaboration for Slice Microdevice 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, 2021, 卷号: 68, 期号: 1, 页码: 488-498
作者:  Shen, Fei;  Qin, Fangbo;  Zhang, Zhengtao;  Xu, De;  Zhang, Juan;  Wu, Wenrong
收藏  |  浏览/下载：241/0  |  提交时间：2021/01/06
Image feature extraction  microassembly  multimicroscopic vision control  pose measurement  slice microdevice  
Efficient insertion strategy for precision assembly with uncertainties using a passive mechanism 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 2021, 卷号: 17, 期号: xx, 页码: xxxx
作者:  Xing DP(邢登鹏);  Liu, Fangfang;  Xu, De
浏览  |  Adobe PDF(2866Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：253/80  |  提交时间：2020/11/02
manipulation  
Joint alignment and simultaneous insertion of multiple objects in precision assembly 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 2021, 期号: xx, 页码: xxxx
作者:  Xing DP(邢登鹏);  Liu, Fangfang;  Xu, De
浏览  |  Adobe PDF(2163Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：179/72  |  提交时间：2020/11/02
assembly  
Simultaneous control in belief space for circular insertion in precision assembly 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS, 2021, 卷号: 17, 期号: xx, 页码: xxxx
作者:  Xing DP(邢登鹏);  Liu FF(刘芳芳);  Xu D(徐德);  Xu B(徐波)
Adobe PDF(4400Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：292/101  |  提交时间：2020/11/02
belief space