中文版 | English

在结果中检索

CASIA OpenIR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Expected affine: A registration method for damaged section in serial sections electron microscopy 期刊论文
FRONTIERS IN NEUROINFORMATICS, 2022, 卷号: 16, 页码: 11
作者:  Xin, Tong;  Shen, Lijun;  Li, Linlin;  Chen, Xi;  Han, Hua
收藏  |  浏览/下载：171/0  |  提交时间：2022/11/14
image registration  SSEM  broken sections  section fold  section crack