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An approach to test security of EPCglobal class 1 generation 2 RFID system 会议论文
IEEE International Conference on RFID-Technology and Applications (RFID-TA), 2010
作者:  Zhao, Hongsheng;  Tan, Jie;  Zhu, Zhiyuan
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A dynamic RFID performance test system 会议论文
IEEE International Conference on RFID-Technology and Applications (RFID-TA), 2010
作者:  Zhu, Zhiyuan;  Tan, Jie;  Zhao, Hongsheng;  Guan, Qiang;  Li, Na
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