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一种RFID标签工作电平的基准测试系统及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810239330.0, 申请日期: 2008-12-10, 公开日期: 2010-06-23
Inventors:  刘禹;  关强;  赵健;  曾隽芳
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一种RFID标签天线一致性的基准测试系统及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200810239329.8, 申请日期: 2008-12-10, 公开日期: 2010-06-23
Inventors:  刘禹;  赵健;  关强;  曾隽芳
Favorite  |  View/Download:36/0  |  Submit date:2015/09/22