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一种通过X射线检测含金属被测物的无损检测系统和方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201210413226.5, 申请日期: 2012-10-25, 公开日期: 2013-02-20
发明人:  高阳;  常红星;  李书晓;  朱承飞
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