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Sensitive Quality-Relevant Fault Monitoring using Enhanced Sparse Projection to Latent Structures 会议论文
, Changsha, China, July 4-8, 2018
作者:  Bai, Xiwei;  Wang, Xuelei;  Tan, Jie;  Qin, Wei;  Zhang, Tianren;  Sun, Wei
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Improved Weighted PLS for Quality-Relevant Fault Monitoring Based on Inner Matrix Similarity 会议论文
, Auckland, New Zealand, July 9-12, 2018
作者:  Bai, Xiwei;  Wang, Xuelei;  Tan, Jie;  Sun, Wei;  Zhang, Zhiyong;  Zhang, Zhonghao
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