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Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文
, 中国浙江省杭州市, 2019-9
作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(554Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：134/48  |  提交时间：2022/06/14
SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope