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Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文
, 中国浙江省杭州市, 2019-9
作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
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SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope  
Real-time Scene Recognition on Embedded System with SIFT Keypoints and a New Descriptor 会议论文
2013 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation, Takamatsu, Japan, Aug. 4-7, 2013
作者:  Xiao, Han;  He, Wenhao;  Yuan, Kui;  Wen, Feng
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Fpga  Sift  Descriptor  Image Recognition  Real-time  
Real-time SIFT-based Object Recognition System 会议论文
2013 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation, Takamatsu, Japan, Aug, 4-7, 2013
作者:  Wang, Zhao;  Xiao, Han;  He, Wenhao;  Wen, Feng;  Yuan, Kui
浏览  |  Adobe PDF(978Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：254/84  |  提交时间：2016/10/17
Object Recognition  Sift Keypoints  Embedded System  K-d Tree  Bbf Algorithm  
Object Categorization Using Local Feature Context 会议论文
Proceedings, Part II. Lecture Notes in Computer Science 7733, Huangshan, China, January 7-9, 2013
作者:  Tao Sun;  Chunjie Zhang;  Jing Liu;  Hanqing Lu
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Bag Of Visual Words  Local Feature Context  Sift  Object Categorization  
An Improvement on the Keypoint Detection Method of SIFT for Hardware Computation 会议论文
the 8th World Congress on Intelligent Control and Automation, Taipei, Taiwan, June 21-25, 2011
作者:  Xiao H(肖晗);  Yuan K(原魁);  He WH(何文浩);  Xiao H(肖晗)
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Sift  Hardware Computation  Fpga  Keypoint Detection