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UTR: UNSUPERVISED LEARNING OF THICKNESS-INSENSITIVE REPRESENTATIONS FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE 会议论文
, 美国阿拉斯加, 2021-10
作者:  Xin T(辛桐);  Chen BH(陈波昊);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
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Feature Descriptor  Unsupervised learning  Electron Microscopy  Image registration  FIB-SEM  
Dual Networks for High-Precision and High-Speed Registration of Brain Electron Microscopy Images 期刊论文
Brain Sciences, 2020, 卷号: 10, 期号: 2, 页码: 86
作者:  Shu, Chang;  Xin, Tong;  Zhou, Fangxu;  Chen, Xi;  Han, Hua
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Computer Vision  Image Processing  Deep Learning  Image Registration  Electron Microscopy Image  Dual Network Architecture  Unsupervised Learning  
An unsupervised network for fast microscopic image registration 会议论文
Medical Imaging 2018: Digital Pathology, Houston, Texas, United States, 10-15 FEBRUARY, 2018
作者:  Shu, Chang;  Chen, Xi;  Xie, Qiwei;  Han, Hua
浏览  |  Adobe PDF(1167Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：345/116  |  提交时间：2018/10/08
Microscopic image registration  deep learning  unsupervised learning  coarse-to-fine multi-scale iterative scheme