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A Novel and Effective Surface Flaw Inspection Instrument for Large-Aperture Optical Elements 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2015, 卷号: 64, 期号: 9, 页码: 2530-2540
作者:  Tao, Xian;  Zhang, Zhengtao;  Zhang, Feng;  Xu, De
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Bright-field Imaging System (Bfis)  Dark-field Imaging System (Dfis)  Flaw Inspection  Image Processing  Large-aperture Optical Element  Measurement  Path Planning  
Surface Defect Detection on Optical Devices Based on Microscopic Dark-Field Scattering Imaging 期刊论文
STROJNISKI VESTNIK-JOURNAL OF MECHANICAL ENGINEERING, 2015, 卷号: 61, 期号: 1, 页码: 24-32
作者:  Yin, Yingjie;  Xu, De;  Zhang, Zhengtao;  Bai, Mingran;  Zhang, Feng;  Tao, Xian;  Wang, Xingang
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Scale Invariance Feature Transform  Linear Discriminant Function  Cluster Algorithm  Image Segmentation  Image Mosaic  Dark-field Imaging  Optical Devices