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THE ANALYSIS OF THE STATES OF BUFFER IN A CIMS PRODUCTION LINE 期刊论文
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY, 1993, 卷号: 33, 期号: 7, 页码: 937-940
作者:  MIN, T
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THE RELIABILITY MODEL ON A 2-STAGE CIMS PRODUCTION LINE 期刊论文
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY, 1993, 卷号: 33, 期号: 9, 页码: 1275-1280
作者:  MIN, T
收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2018/10/10