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Path Delay Test generation Toward Activation of worst Case Coupling Effects 期刊论文
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982
Authors:  minjin, zhang;  Huawei, Li;  Xiaowei,Li
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Crosstalk-induced Delay  Delay Testing  Path Delay Fault  Signal Integrity  Test Generation  Timing Analysis  
VLSI版图互连优化和光学工艺校正算法研究 学位论文
, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院研究生院, 2009
Authors:  马鸿
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物理综合  缓冲优化  信号完整性  分辨率增强技术  光学和工艺校正  Physical Synthesis  Buffering Optimization  Signal Integrity  Resolution Enhancement Technique  Optical And Process Correction  
纳米级IC设计中的信号完整性问题研究 学位论文
, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院研究生院, 2006
Authors:  张富彬
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静态串扰噪声  动态串扰噪声  电感噪声  静态ir压降  动态ir压降  信号完整性  电源完整性  Static Crosstalk Noise  Dynamic Crosstalk Noise  Inductive Noise  Static Ir Drop  Dynamic Ir Drop  Signal Integrity  Power Integrity