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一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统
谭杰; 赵红胜; 朱智源
2009-12-09
公开日期2010-07-14
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明公开一种高速运动状态下的电子标签性能测试方法及系统,该系统由待测电子标签,测试装置,测试设备组成,利用上述系统实现的方法包括:首先将待测电子标签放置在高速电子标签测试装置的转盘上,利用测试装置上的软件控制系统和电器系统,高速转动转盘,模拟电子标签高速运动,同时读写器向运动中的待测电子标签发送查询指令,观察电子标签对指令的响应情况,从而得出高速运动状态下的标签性能指标。通过该测试系统,提供在实验室环境下测试高速运动电子标签性能的方法,对标签的生产、使用起到关键指导作用。测试装置上的屏蔽罩用于增加或减少转盘暴露范围,有助于提高测试结果的正确性和测试过程的安全性。
专利号CN200910242344.2
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8418
专题综合信息系统研究中心
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
谭杰,赵红胜,朱智源. 一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统. CN200910242344.2[P]. 2009-12-09.
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