| 一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统 |
| 谭杰 ; 赵红胜; 朱智源
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| 2009-12-09
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| 公开日期 | 2010-07-14
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| 授权国家 | CN
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 本发明公开一种高速运动状态下的电子标签性能测试方法及系统，该系统由待测电子标签，测试装置，测试设备组成，利用上述系统实现的方法包括：首先将待测电子标签放置在高速电子标签测试装置的转盘上，利用测试装置上的软件控制系统和电器系统，高速转动转盘，模拟电子标签高速运动，同时读写器向运动中的待测电子标签发送查询指令，观察电子标签对指令的响应情况，从而得出高速运动状态下的标签性能指标。通过该测试系统，提供在实验室环境下测试高速运动电子标签性能的方法，对标签的生产、使用起到关键指导作用。测试装置上的屏蔽罩用于增加或减少转盘暴露范围，有助于提高测试结果的正确性和测试过程的安全性。 |
| 专利号 | CN200910242344.2
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| 专利状态 | 授权
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8418
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| 专题 | 综合信息系统研究中心
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| 作者单位 | 中国科学院自动化研究所
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| 第一作者单位 | 中国科学院自动化研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
谭杰,赵红胜,朱智源. 一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统. CN200910242344.2[P]. 2009-12-09.
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