| RFID标签响应频率基准测试系统及方法 |
| 刘禹 ; 朱智源; 李秀萍
|
| 2009-11-11
|
| 公开日期 | 2010-07-21
|
| 授权国家 | CN
|
| 专利类型 | 发明
|
| 摘要 | 本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法，该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，该方法是在保持输入能量相同的情况下，通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性，得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试，可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
| 专利号 | CN200910237841.3
|
| 专利状态 | 授权
|
| 文献类型 | 专利
|
| 条目标识符 | http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8425
|
| 专题 | 综合信息系统研究中心
|
| 作者单位 | 中国科学院自动化研究所
|
| 第一作者单位 | 中国科学院自动化研究所
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
刘禹,朱智源,李秀萍. RFID标签响应频率基准测试系统及方法. CN200910237841.3[P]. 2009-11-11.
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论