| RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法 |
| 刘禹 ; 关强; 刘怀达; 赵健
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| 2009-06-10
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| 公开日期 | 2010-12-29
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| 授权国家 | CN
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 本发明为一种RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法，由标准测试环境、读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架、待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成，其方法是通过人为施加功率、频率可控的RFID读写器模拟邻道干扰信号，统计在可接受读取率下的最大邻道干扰强度，从而科学的、可重复的对RFID读写器的抗邻道干扰能力进行评价，在相同的可接受读取率下，邻道干扰越强就说明该待测读写器的抗邻道干扰能力越强。通过模拟RFID读写器的邻道干扰对读写器的读取率进行测试，为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
| 专利号 | CN200910087129.X
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| 专利状态 | 授权
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8484
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| 专题 | 综合信息系统研究中心
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| 作者单位 | 中国科学院自动化研究所
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| 第一作者单位 | 中国科学院自动化研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
刘禹,关强,刘怀达,等. RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法. CN200910087129.X[P]. 2009-06-10.
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