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RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法
刘禹; 关强; 刘怀达; 赵健
2009-06-10
公开日期2010-12-29
授权国家CN
专利类型发明
摘要本发明为一种RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法,由标准测试环境、读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架、待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成,其方法是通过人为施加功率、频率可控的RFID读写器模拟邻道干扰信号,统计在可接受读取率下的最大邻道干扰强度,从而科学的、可重复的对RFID读写器的抗邻道干扰能力进行评价,在相同的可接受读取率下,邻道干扰越强就说明该待测读写器的抗邻道干扰能力越强。通过模拟RFID读写器的邻道干扰对读写器的读取率进行测试,为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
专利号CN200910087129.X
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8484
专题综合信息系统研究中心
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘禹,关强,刘怀达,等. RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法. CN200910087129.X[P]. 2009-06-10.
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