CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
基于切伦科夫效应的断层成像方法和系统
田捷; 钟江宏; 杨鑫; 秦承虎
2010-12-23
公开日期2012-10-17
授权国家CN
专利类型发明
摘要一种基于切伦科夫效应的断层成像系统,包括:切伦科夫荧光探测装置(101),用于采集平面光学图像;结构成像装置(102),用于采集三维结构图像;物理对象成像床体装置(104、105、106、107、108),用于支撑成像对象;计算机(109),用于形成平面光学图像、三维结构图像和切伦科夫荧光断层图像。本发明采用高阶简化球谐近似模型和迭代半阈值算子相耦合的方法进行全域CLT重建,快速实现放射性药物或分子探针体内分布的三维断层成像。
授权日期2014-04-23
专利号CN201080059913.0
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8688
专题中国科学院分子影像重点实验室
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
田捷,钟江宏,杨鑫,等. 基于切伦科夫效应的断层成像方法和系统. CN201080059913.0[P]. 2010-12-23.
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CN201080059913-基于切伦科(1934KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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