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一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器
肖功弼; 张文生
2012-10-26
Date Available2013-04-17
CountryCN
Subtype发明
Abstract本发明公开了一种测量目标真实温度的辐射测温方法,包括:通过三波长辐射测温仪获取三个波长对应的实测亮温Tsi、目标的近似真温T以及三个比色温度Tci,三个波长为等间隔;根据实测亮温Ts1、Ts2、Ts3以及近似真温T的数值,确定目标在三个波长下的发射率ελ1、ελ2、ελ3;根据计算出的目标在三个波长下的发射率值及近似真温T值,计算目标对应三个波长的比色温度Tci’;根据实测比色温度与计算比色温度,求得均方差之和∑ΔT2;利用改变(Δ=1)后的近似真温的值进一步计算发射率以及比色温度值,进一步求得实测比色温度与该计算比色温度的均方差,比较两个均方差的大小,直至均方差之和最小时,即找到实际真温值T真。利用本发明的方法,可测得目标的真实温度。
Patent NumberCN201210417758.6
Status授权
Document Type专利
Identifierhttp://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8762
Collection精密感知与控制研究中心_人工智能与机器学习
Affiliation中国科学院自动化研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
肖功弼,张文生. 一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器. CN201210417758.6[P]. 2012-10-26.
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