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| 分子影像成像验证系统 | |
田捷; 安羽; 迟崇巍 ; 杨鑫
| |
| 2014-09-19 | |
| 公开日期 | 2015-06-24 |
| 授权国家 | CN |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 摘要 | 本实用新型涉及一种分子影像成像验证系统。系统包括图像采集部分与图像处理部分：图像采集部分包括：冰冻切片机的柜体与采集装置支架相连接，采集装置支架与相机滑动装置相连接，相机滑动装置与相机支架连接，相机支架与相机连接；相机的转接口与相机镜头的转接口相连接，相机镜头的进光口与发射滤光片支架相连接，发射滤光片内嵌于发射滤光片支架的卡槽中；激发光源出口连接光纤的一端，光纤的另一端指向被观测物体；图像处理部分包括图像处理系统。本实用新型能够完成待检测物体的横截面切片测量，完成白光图像采集、荧光图像采集及与白光图像叠加、荧光图像自动分割、分割区域光子数统计、荧光区域几何信息测量，简化了操作步骤和操作流程。 |
| 授权日期 | 2015-06-24 |
| 专利号 | CN201420541770.2 |
| 专利状态 | 授权 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8843 |
| 专题 | 中国科学院分子影像重点实验室 |
| 作者单位 | 中国科学院自动化研究所 |
| 第一作者单位 | 中国科学院自动化研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 田捷,安羽,迟崇巍,等. 分子影像成像验证系统. CN201420541770.2[P]. 2014-09-19. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201420541770-分子影像成（1575KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | ||
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