CASIA OpenIR  > 中国科学院分子影像重点实验室
分子影像成像验证系统
田捷; 安羽; 迟崇巍; 杨鑫
2014-09-19
公开日期2015-06-24
授权国家CN
专利类型实用新型
摘要本实用新型涉及一种分子影像成像验证系统。系统包括图像采集部分与图像处理部分:图像采集部分包括:冰冻切片机的柜体与采集装置支架相连接,采集装置支架与相机滑动装置相连接,相机滑动装置与相机支架连接,相机支架与相机连接;相机的转接口与相机镜头的转接口相连接,相机镜头的进光口与发射滤光片支架相连接,发射滤光片内嵌于发射滤光片支架的卡槽中;激发光源出口连接光纤的一端,光纤的另一端指向被观测物体;图像处理部分包括图像处理系统。本实用新型能够完成待检测物体的横截面切片测量,完成白光图像采集、荧光图像采集及与白光图像叠加、荧光图像自动分割、分割区域光子数统计、荧光区域几何信息测量,简化了操作步骤和操作流程。
授权日期2015-06-24
专利号CN201420541770.2
专利状态授权
文献类型专利
条目标识符http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/8843
专题中国科学院分子影像重点实验室
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
田捷,安羽,迟崇巍,等. 分子影像成像验证系统. CN201420541770.2[P]. 2014-09-19.
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CN201420541770-分子影像成(1575KB)专利 开放获取CC BY-NC-SA请求全文
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