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基于乘子法的自发荧光断层成像重建方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201210523586.0, 申请日期: 2012-12-07, 公开日期: 2013-03-27
发明人:  田捷;  郭伟;  杨鑫
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自适应的荧光断层成像重建方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201210478434.3, 申请日期: 2012-11-22, 公开日期: 2013-02-27
发明人:  杨鑫;  田捷;  薛贞文;  李勇保
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基于有限角度扫描的光声断层成像装置及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201210262846.3, 申请日期: 2012-07-26, 公开日期: 2012-10-17
发明人:  田捷;  刘学彦;  彭冬;  马喜波;  杨鑫
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