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Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21
作者:  Tao, Xian;  Gong, Xinyi;  Zhang, Xin;  Yan, Shaohua;  Adak, Chandranath
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Anomaly localization (AL)  deep learning  industrial inspection  literature survey  unsupervised learning  
基于显微视觉的表面瑕疵检测与振动测量研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2016
作者:  陶显
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大口径光学元件  表面瑕疵检测  振动测量  显微视觉