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一种融入全局信息的指纹细节点匹配方法及系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910241531.9, 申请日期: 2009-11-25, 公开日期: 2010-07-14
发明人:  杨鑫;  田捷;  曹凯;  臧亚丽
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基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910087353.9, 申请日期: 2009-06-17, 公开日期: 2010-06-30
发明人:  王欣刚;  刘东昌
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