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A Hierarchical Model for the Evaluation of Biometric Sample Quality 会议论文
Proc. of IEEE International Conference on Pattern Recognition, USA, 2008
作者:  Qian He;  Zhenan Sun;  Tieniu Tan;  Yong Zou
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Counterfeit Iris Detection Based on Texture Analysis 会议论文
Proc. of IEEE International Conference on Pattern Recognition, USA, 2008
作者:  Zhuoshi Wei;  Xianchao Qiu;  Zhenan Sun;  Tieniu Tan
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Synthesis of Large Realistic Iris Databases Using Patch-based Sampling 会议论文
Proc. of IEEE International Conference on Pattern Recognition, USA, 2008
作者:  Zhuoshi Wei;  Tieniu Tan;  Zhenan Sun
收藏  |  浏览/下载：80/0  |  提交时间：2017/02/25