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TA-denseNet: Efficient hardware trust and assurance model based on feature extraction and comparison of SEM images and GDSII images 期刊论文
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2024, 卷号: 95, 页码: 9
作者:  Xiao, Wei;  Zhao, Fazhan;  Zhao, Kun;  Ma, Hongtu;  Li, Qing
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2024/02/20
Scanning electron microscopy  Deep learning  Hardware trust and assurance  Integrated circuit