Knowledge Commons of Institute of Automation,CAS
Performance Analysis in Serial-section Electron Microscopy Image Registration of Neuronal Tissue | |
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2022-04 | |
会议名称 | SPIE Medical Imaging |
卷号 | 12032 |
页码 | 702-709 |
会议日期 | 2022-1 |
会议地点 | 美国圣地亚哥 |
会议举办国 | 美国 |
摘要 | Serial-section electron microscopy is a widely used technique for neuronal circuit reconstruction. However, the continuity of neuronal structure is destroyed when the tissue block is cut into a series of sections. The neuronal morphology in different sections changes with their locations in the tissue block. These content changes in adjacent sections bring a diffculty to the registration of serial electron microscopy images. As a result, the |
关键词 | Registration accuracy Serial section Neuronal structure Spherical deformation model |
收录类别 | EI |
资助项目 | Strategic Priority Research Program of the Chinese Academy of Sciences (CAS)[XDB32030200] |
语种 | 英语 |
文献类型 | 会议论文 |
条目标识符 | http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/48582 |
专题 | 脑图谱与类脑智能实验室_微观重建与智能分析 |
通讯作者 | Chen X(陈曦) |
作者单位 | 1.中国科学院自动化研究所 2.中国科学院大学人工智能学院 3.中国科学院脑科学与智能技术卓越创新中心 4.中国科学院自动化研究所模式识别国家实验室 5.中国科学院大学未来技术学院 |
第一作者单位 | 中国科学院自动化研究所 |
通讯作者单位 | 中国科学院自动化研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen BH,Xin T,Han H,et al. Performance Analysis in Serial-section Electron Microscopy Image Registration of Neuronal Tissue[C],2022:702-709. |
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文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
Performance Analysis(1634KB) | 会议论文 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 |
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