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X射线工业CT成像过程复杂伪影抑制方法综述
杨富强; 杨瑶; 李志翔; 黄魁东
Source Publication自动化学报
ISSN0254-4156
2023
Volume49Issue:4Pages:687-704
AbstractX射线工业计算机断层(Computerized tomography, CT)技术是一种先进的非接触式无损三维检测技术,能在无损伤情况下以灰度图像的形式对物体内部结构进行全面、详细地分析,在航空航天、工业生产、安检等领域发挥着重要的作用.针对工业CT伪影严重降低图像质量问题,对工业CT成像过程复杂伪影形成机理进行分析,对不同类型伪影抑制方法进行归纳总结.阐述了基于射线衰减、探测器及高密度差异、采样数据及重建等不同过程伪影成因及伪影消除相关算法的最新技术进展,并对近年来人工智能深度学习背景下新兴的基于深度学习及神经网络的工业CT无损检测研究与发展方向进行了总结和展望.
Keyword工业CT 伪影抑制 深度学习 智能检测
DOI10.16383/j.aas.c220352
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.ia.ac.cn/handle/173211/56160
Collection学术期刊_自动化学报
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GB/T 7714
杨富强,杨瑶,李志翔,等. X射线工业CT成像过程复杂伪影抑制方法综述[J]. 自动化学报,2023,49(4):687-704.
APA 杨富强,杨瑶,李志翔,&黄魁东.(2023).X射线工业CT成像过程复杂伪影抑制方法综述.自动化学报,49(4),687-704.
MLA 杨富强,et al."X射线工业CT成像过程复杂伪影抑制方法综述".自动化学报 49.4(2023):687-704.
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