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Beyond Mahalanobis Metric: Cayley-Klein Metric Learning 会议论文
, Boston, Massachusetts, USA, 2015
作者:  Bi, Yanhong;  Fan, Bin;  Wu, Fuchao
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Metric Learning  Cayley-klein Metric  
UniHIST: A Unified Framework for Image Restoration With Marginal Histogram Constraints 会议论文
IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, Boston, MA, 2015-6
作者:  Mei, Xing;  Dong, Weiming;  Hu, Bao-Gang;  Lyu, Siwei
Adobe PDF(2059Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：305/39  |  提交时间：2016/04/22
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