中文版 | English

在结果中检索

CASIA OpenIR

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文
, 中国浙江省杭州市, 2019-9
作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(554Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：185/64  |  提交时间：2022/06/14
SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope  
Face Anti-Spoofing by Learning Polarization Cues in a Real-World Scenario 会议论文
, Chengdu, China, November 13 - 15, 2020
作者:  Tian, Yu;  Zhang, Kunbo;  Wang, Leyuan;  Sun, Zhenan
Adobe PDF(3838Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：225/48  |  提交时间：2021/10/08