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Conductive Particle Detection for Chip on Glass Using Convolutional Neural Network 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2021, 卷号: 70, 期号: 1, 页码: 1-10
作者:  Tao X(陶显);  Ma WZ(马文治);  Lu ZF(逯正峰);  Hou ZX(侯占新)
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缺陷检测  
Deep & Attention : A Self-Attention based Neural Network for Remaining Useful Lifetime Predictions 会议论文
, Budapest, Hungary, 2021-2
作者:  Yuanjun, Liu;  Xingang, Wang
Adobe PDF(1820Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：193/37  |  提交时间：2021/07/01