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Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21
作者:  Tao, Xian;  Gong, Xinyi;  Zhang, Xin;  Yan, Shaohua;  Adak, Chandranath
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Anomaly localization (AL)  deep learning  industrial inspection  literature survey  unsupervised learning  
Elimination of stripe artifacts in light sheet fluorescence microscopy using an attention-based residual neural network 期刊论文
BIOMEDICAL OPTICS EXPRESS, 2022, 卷号: 13, 期号: 3, 页码: 1292-1311
作者:  Wei, Zechen;  Wu, Xiangjun;  Tong, Wei;  Zhang, Suhui;  Yang, Xin;  Tian, Jie;  Hui, Hui
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