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Blind2Unblind: Self-Supervised Image Denoising with Visible Blind Spots 会议论文
, New Orleans, LA, USA, 18-24 June 2022
作者:  Wang, Zejin;  Liu, Jiazheng;  Li, Guoqing;  Han, Hua
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UTR: UNSUPERVISED LEARNING OF THICKNESS-INSENSITIVE REPRESENTATIONS FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE 会议论文
, 美国阿拉斯加, 2021-10
作者:  Xin T(辛桐);  Chen BH(陈波昊);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华)
Adobe PDF(2365Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:231/43  |  提交时间:2022/06/14
Feature Descriptor  Unsupervised learning  Electron Microscopy  Image registration  FIB-SEM