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Deep Learning for Unsupervised Anomaly Localization in Industrial Images: A Survey 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 21
作者:  Tao, Xian;  Gong, Xinyi;  Zhang, Xin;  Yan, Shaohua;  Adak, Chandranath
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Anomaly localization (AL)  deep learning  industrial inspection  literature survey  unsupervised learning  
Attribute-Induced Bias Eliminating for Transductive Zero-Shot Learning 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON MULTIMEDIA, 2022, 卷号: 24, 页码: 1933-1942
作者:  Yao, Hantao;  Min, Shaobo;  Zhang, Yongdong;  Xu, Changsheng
收藏  |  浏览/下载：242/0  |  提交时间：2022/06/10
Semantics  Visualization  Bridges  Training  Knowledge transfer  Image recognition  Topology  Transductive Zero-Shot Learning  Graph Attribute Embedding  Attribute-Induced Bias Eliminating  Semantic-Visual Alignment